横川 賢悦 | (株) 日立製作所 中央研究所

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概要

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関連著者

• 伊澤 勝

  (株) 日立製作所 中央研究所

• 丹藤 匠

  (株) 日立製作所 中央研究所

• 久保 誠司

  日立レフテクノ (株)

• 横川 賢悦

  (株) 日立製作所 中央研究所

• 根岸 伸幸

  (株) 日立製作所 中央研究所

著作論文

• Improvement of High Aspect Ratio Contact Etching Performance by using Real-Time Wafer Temperature Control (1st Report):—Prototyping of a Basic Equipment and Evaluation of the Temperature Control Effect on Etching Process—

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