Yao Takafumi | Angstrom Technology Partnership (ATP), 1-1-4 Higashi, Tsukuba 305, Japan

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Angstrom Technology Partnership (ATP), 1-1-4 Higashi, Tsukuba 305, Japan | 論文

• Characterization of ZnSe/GaAs(001) Heteroepitaxial Interfaces by X-Ray Reflectivity Measurement

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