Graeff Carlos | Walter Schottky Institut, Technische Universität München, Am Coulombwall, Garching, 85748, Germany

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概要

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• Walter Schottky Institut, Technische Universität München, Am Coulombwall, Garching, 85748, Germanyの論文著者

Walter Schottky Institut, Technische Universität München, Am Coulombwall, Garching, 85748, Germany | 論文

• Saturation Measurements of Electrically Detected Magnetic Resonance in Hydrogenated Amorphous Silicon Based Thin-Film Transistors

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