OKAMOTO Yoshihiko | Semiconductor Device Engineering Department, Tokyo Shibaura Electric Co., Ltd.

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概要

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• 同名の論文著者
• Semiconductor Device Engineering Department, Tokyo Shibaura Electric Co., Ltd.の論文著者

Semiconductor Device Engineering Department, Tokyo Shibaura Electric Co., Ltd. | 論文

• A New Instability in MOS Transistor Caused by Hot Electron and Hole Injection from Drain Avalanche Plasma into Gate Oxide

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