YOON H. | Semiconductor Research Laboratory, Hyundai Electronics Industry Co., LTD.

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概要

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Semiconductor Research Laboratory, Hyundai Electronics Industry Co., LTD. | 論文

• Stress Effect on the Reliability of pMOS TFTs for 16Mb SRAM : DC Stress at Room and Elevated Temperatures
• Metal Node Contact TFT SRAM Cell for High Speed, Low Voltage Applications

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