ASADA Kunihiro | Faculty of Engineering, The Univ. of Tokyo (VDEC, Univ. of Tokyo)

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概要

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Faculty of Engineering, The Univ. of Tokyo (VDEC, Univ. of Tokyo) | 論文

• Test Structure for Characterizing Capacitance Matrix of Multi-Layer Interconnects in VLSI (Special Issue on Microelectronic Test Structures)

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