Nakamae Masahiko | Sumitomo Mitsubishi Silicon Corporation, 2201 Oaza Kamioda, Kohoku-cho, Kishima-gun, Saga 849-0579, Japan

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Sumitomo Mitsubishi Silicon Corporation, 2201 Oaza Kamioda, Kohoku-cho, Kishima-gun, Saga 849-0579, Japan | 論文

• Evaluation of Interface States Density and Minority Carrier Generation Lifetime for Strained Si/SiGe Wafers Using Transient Capacitance Method

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