HU Jiang | Department of Electrical and Computer Engineering, Texas A&M University
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概要
論文 | ランダム
- Ni^による非弾性電子散乱 : 低エネルギー原子核実験
- Se^, VのdecayによるTi^の準位構造 : 低エネルギー原子核実験
- K^のDECAY : 低エネルギー原子核実験
- C^及びO^の1^-;T=0準位による非弾性電子散乱 : 低エネルギー原子核実験
- Be^9による非弾性電子散乱 : 低エネルギー原子核実験