枝松 寿一 | 松下電器産業株式会社 半導体研究センター

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概要

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• 松下電器産業株式会社 半導体研究センターの論文著者

松下電器産業株式会社 半導体研究センター | 論文

• スタンダードセル方式ブロックの形状見積りの方法と評価
• リーフセル回路最適化手法(システムLSIの設計技術と設計自動化)
• 製造ばらつきを考慮したマクロセルレイアウト合成システム
• 統計的静的遅延解析における偽パス除去手法について
• CMOS組み合わせ回路のための相関を考慮した統計的静的遅延解析手法

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