YAMADA Satoru | ELPIDA memory, Inc., Device Development Center, Hitachi, Ltd.

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概要

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ELPIDA memory, Inc., Device Development Center, Hitachi, Ltd. | 論文

• Analysis of Boron Penetration and Gate Depletion Using Dual-Gate PMOSFETs for High Performance G-Bit DRAM Design(Special Issue on Microelectronic Test Structures)

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