Hashizume Hidehisa | LEO Division, Kobelco Research Institute, Inc., 1-5-5 Takatsukadai 1-chome, Nishi-ku, Kobe 651-2271, Japan

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LEO Division, Kobelco Research Institute, Inc., 1-5-5 Takatsukadai 1-chome, Nishi-ku, Kobe 651-2271, Japan | 論文

• Excess Carrier Lifetime Measurement of Bulk SiC Wafers and Its Relationship with Structural Defect Distribution

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