浅田 邦博 | 東京大学大学院工学系研究科:東京大学大規模集積システム設計教育研究センター
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概要
東京大学大学院工学系研究科:東京大学大規模集積システム設計教育研究センター | 論文
- PMOS/NMOSのプロセスばらつきを独立に検出するためのリング型バッファチェインを用いたオンチップモニタ(アナログ,アナデジ混載,RF及びセンサインタフェース回路)
- PMOS/NMOSのプロセスばらつきを独立に検出するためのリング型バッファチェインを用いたオンチップモニタ(アナログ,アナデジ混載,RF及びセンサインタフェース回路)
- C-12-39 インバータチェーンを用いたパルス幅メモリ(C-12.集積回路,一般セッション)
- C-12-23 小面積ディジタルプロセスばらつきモニタの特性評価(ばらつき補償・次世代回路,C-12.集積回路,一般セッション)
- A-3-15 セルレイアウトに対する光学パターン転写工程のばらつき耐性評価(A-3.VLSI設計技術,一般講演)