Morifuji Eiji | Semiconductor Company, Toshiba Corporation, 580-1 Horikawa-cho, Saiwai-ku, Kawasaki 212-8520, Japan

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概要

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関連著者

• Morifuji Eiji

  Semiconductor Company, Toshiba Corporation, 580-1 Horikawa-cho, Saiwai-ku, Kawasaki 212-8520, Japan

著作論文

• Impact of Mechanical Stress on Hot-Carrier Lifetime and Time-Dependent Dielectric Breakdown in Downscaled Complimentary Metal–Oxide–Semiconductor

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