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MEYER Thomas | Metrology Laboratory, EPFL Swiss-Federal Institute of Technology
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Metrology Laboratory, EPFL Swiss-Federal Institute of Technologyの論文著者
Metrology Laboratory, EPFL Swiss-Federal Institute of Technology | 論文
Birefringence Writing and Erasing in Ultra-Low-Birefringence Fibers by Polarized Ultraviolet Side-Exposure : Origin and Applications
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