Engl Walter | the Institut fur Theoretische Elektrotechnik, University of Aachen, Kopernikusstr.

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概要

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the Institut fur Theoretische Elektrotechnik, University of Aachen, Kopernikusstr. | 論文

• Influence of Energy Transport Related Effects on NPN BJT Device Performance and ECL Gate Delay Analysed by 2D Parallel Mixed Level Device/Circuit Simulation (Special Issue on 1993 VLSI Process and Device Modeling Workshop (VPAD93))

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