WAKATSUKI Noboru | Faculty of Sicence and Engineering, Ishinomaki Senshu University
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概要
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論文 | ランダム
- PE5 SiO_2/IDT/ZnO/ダイヤ構造のSAW特性検討(ポスターセッション1)
- 不確かなテスト集合の検出/非検出情報に基づくブリッジ故障の診断法(BIST と故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
- ダイヤモンドSAWフィルターの特性と応用
- 不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- 不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)