KOBAYASHI Keizo | IC Division, Nippon Electric Company, Ltd.

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概要

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IC Division, Nippon Electric Company, Ltd. | 論文

• Substrate Current due to Impact Ionization in MOS-FET
• Memory Performance of MOS Transistors with SiO_2 Films Prepared by SiH_4-H_2O System
• Broadening of Landau Levels in Two-Dimensional Electron Gas : Its Effect on Surface Capacitance

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