LIN Sun-Yun | Fab-3 Engineering-I Dept., Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd.

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概要

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• Fab-3 Engineering-I Dept., Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd.の論文著者

Fab-3 Engineering-I Dept., Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | 論文

• Hot Carrier Degradation in Deep Sub-Micron Nitride Spacer Lightly Doped Drain N-Channel Metal-Oxide-Semiconductor Transistors

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