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Jimenez-Rey David | Centro de Microanalisis de Materiales (CMAM), Universidad Autonoma de Madrid (UAM)
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Centro de Microanalisis de Materiales (CMAM), Universidad Autonoma de Madrid (UAM) | 論文
Ionoluminescence as Sensor of Structural Disorder in Crystalline SiO_2 : Determination of Amorphization Threshold by Swift Heavy Ions
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