Lee Ho-Nyeon | LCD R&D Center, BOE-HYDIS, Ichon, Kyoungki-do 467-701, Korea

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概要

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• 同名の論文著者
• LCD R&D Center, BOE-HYDIS, Ichon, Kyoungki-do 467-701, Koreaの論文著者

関連著者

• Kim Hyun-jin

  Lcd R&d Center Boe-hydis

• Lee Ho-Nyeon

  LCD R&D Center, BOE-HYDIS, Ichon, Kyoungki-do 467-701, Korea

• Cho Jinhui

  LCD R&D Center, BOE-HYDIS, Ichon, Kyoungki-do 467-701, Korea

• Cho Jinhui

  LCD R&D Center, BOE-HYDIS, Ichon, Kyoungki-do 467-701, Korea

著作論文

• Relationship between Leakage Current and the Type of Passivation Layer of Hydrogenated Amorphous Silicon Thin-Film Transistors

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