紀本 静雄 | 日本電子
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概要
関連著者
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紀本 静雄
日本電子
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紀本 静雄
日本電子(株)
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橋本 寛
日本電子
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佐藤 正幸
日本電子
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橋本 寛
日本電子株式会社
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間瀬 精士
日本電子
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紀本 静雄
日本電子株式会社
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馬替 敏治
日本電子K.K.
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大羽 博道
日本電子
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小久保 靖
日本電子
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紀本 静雄
日本電子K.K.
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紀本 和男
名大教養
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深野 泰茂
名大教養
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菅沼 忠雄
日本電子株式会社
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紀本 和男
名古屋大学 教養部
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高嶋 進
日本電子
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田中 昇
日本赤十字社中央病院中央検査部
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池田 栄雄
日本赤十字社中央病院中央検査部
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上野 哲夫
日本赤十字社中央病院中央検査部
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山本 博昭
日本赤十字社中央病院中央検査部
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管野 剛
東芝総合研究所
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安達 達哉
日本電子
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大井 英之
日本電子
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大井 和子
日本電子
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間瀬 精士
日本電子株式会社
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橋本 寛
日本電子K.K.
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深野 泰茂
名大.教養
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紀本 和男
名大.教養
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多田 和子
日本電子
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内山 洋
日本電子
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高橋 得雄
日本電子
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佐藤 正幸
日本電子K.K.
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吉田 忠男
日本電子K.K.
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佐藤 正幸
日本電子株式会社
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加藤 峻
日本電子株式会社
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生江 隆男
日本電子株式会社
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菅沼 忠雄
日本電子
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川崎 栄一
日大理工
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加藤 清江
教育大理
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上野 哲夫
千葉県がんセンター呼吸器科:千葉県がんセンター臨床検査部細胞診:千葉県がんセンター病理
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田中 昇
日本赤十字社中央病院 病理
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加藤 清江
電試
著作論文
- SEMによる透過像の限界コントラスト : X線, 粒子線
- 84.走査型電子顕微鏡の細胞診への導入 (一般講演 , 第11回日本臨床細胞学会総会講演要旨)
- 9a-N-10 走査方式によるmagnetic energy analyzer
- 赤外ルミネッセンスの走査電顕像 : 半導体 (圧力効果, 電子顕微鏡による観察)
- 走査方式によるmagnetic energy analyzer : X線, 粒子線
- SEMにおけるTV走査装置とその応用 : X線, 粒子線
- Computerによる定量補正計算 : X線・粒子線
- Soap-filmによるBeの発揮体の分光 : X線粒子線
- 5p-G-11 薄膜素子の二次電子放射
- 14a-H-8 走査電子顕微鏡におけるコントラスト
- O-Kα線に対する質量吸収係数 : X線・粒子線
- 90°磁気偏向板を備えた走査型電子回折装置 : X線・粒子線
- XMAにおける酸素の定量測定 : X線・粒子線
- XMAにおけるコンタミネーションの影響と除去 : X線・粒子線
- 走査型電子顕微鏡とその応用 : 電子ビームとその応用シンポジウム
- Electron probeによるP-N junctionの観察 : 半導体 : 測定法
- パルス積分器を用いた特性X線像 : X線マイクロアナリシス シンポジウム
- X線像記憶装置 : X線マイクロアナリシス シンポジウム
- Multi-Detectorによる反射電子線像 : X線マイクロアナリシス シンポジウム
- 電子線検出器としてのSi P-N junctionの特性 : X線マイクロアナリシス シンポジウム
- 5a-O-2 Multi-Phase Alloyの吸収電子線による観察
- 吸収電子線像のコントラスト : X線・粒子線
- 磁場中のプラズマの振動 : プラズマ物理
- 90°磁気偏向板を備えた走査型電子回折装置 : X線・粒子線