板橋 遊 | (株)ihi

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概要

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関連著者

• 板橋 遊

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• 高梨 正祐

  株式会社IHI

• 平野 隆

  Ihi Corporation

• 高梨 正祐

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• 中山 元

  株式会社ihi

• 中山 元

  Ihi Corporation

• 榊原 洋平

  株式会社IHI技術開発本部基盤技術研究所

• 中山 元

  石川島播磨重工業株式会社技術開発本部基盤技術研究所

• 榊原 洋平

  株式会社ihi

• 平野 隆

  株式会社ihi

• 板橋 遊

  株式会社ihi

• 東郷 敬一郎

  静岡大工

• 島村 佳伸

  静岡大・工

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• 島村 佳伸

  静大工

• 藤井 朋之

  静岡大学工学部

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• 植田 祐介

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• 植田 祐介

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  静岡大学工学部

• 上田 貴志

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著作論文

• 1112 超音波疲労試験片の発熱量と温度分布推定(OS11-3 材料の疲労挙動と損傷評価-計測-)
• ノッチ付き試験片を用いた中型CBB試験法の開発と評価 (第58回材料と環境討論会)
• Alloy182/低合金鋼界面での応力腐食き裂停留挙動のK[J]による評価
• ノッチ付き試験片を用いた中型CBB試験法の開発と評価
• 718 明瞭な降伏点を示さない材料でのCT試験片のK値有効性検討(非線形破壊と破壊評価,破壊の発生・進展とその解析・評価・計測,オーガナイスドセッション7)
• Alloy182/低合金鋼界面での応力腐食き裂停留挙動のK_Jによる評価
• 523 Inconel718の低サイクル疲労特性に及ぼすショットピーニングの影響(表面処理の影響II,疲労研究の課題と展望,オーガナイスドセッション1)

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