表 和彦 | (株)リガクx線研究所

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概要

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関連著者

• 表 和彦

  (株)リガクx線研究所

• 伊藤 義泰

  (株)リガクX線研究所

• 伊藤 義泰

  (株)リガク

著作論文

• X線反射率による膜構造測定における不確かさ
• 微小角入射X線回折で界面の構造をみる
• 反射X線小角散乱法による薄膜中のナノ粒子・空孔サイズ測定
• 結晶構造とX線回折
• X線回折同時測定装置によるコンビナトリアルエピタキシャル薄膜のハイスループット分析

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