BERNSTEIN K. | IBM Microelectronics Division

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概要

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• 同名の論文著者
• IBM Microelectronics Divisionの論文著者

関連著者

• Puri R.

  Ibm T. J. Watson Research Center

• CHUANG C.

  IBM T. J. Watson Research Center

• BERNSTEIN K.

  IBM Microelectronics Division

著作論文

• Effects of Gate-to-Body Tunneling Current on PD/SOI CMOS Circuits

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