柏原 泰治 | 名大工
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概要
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理学電機
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セイコーエプソン
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柏倉 伸男
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寺内 暉
関学大理工
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大嶋 建一
筑波大
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大嶋 建一
名大工
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渡辺 洋右
東北大金研
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岩崎 博
高エネルギー物理学研究所 放射光実験施設
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志村 考功
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東北大金研
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岩崎 博
東北大金研
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加藤 友博
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渡辺 洋右
東北大学金属材料研究所
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吉岡 英
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中井 靖男
大同工業大学電気工学科
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中井 靖男
名大理物理
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柏倉 伸男
岐大・工
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桜井 良和
名大工
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橋本 真也
原研
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寺内 暉
関学大理
著作論文
- 5p-B5-14 酸化物超伝導体BaPb_Bi_xO_3(X=0.25)のソフトフォノンモードの測定
- 2a-N-8 表面接触入射X線回折法(そのII)
- 3a-M-10 合金単結晶からのX線散漫散乱強度の成分分離への異常散乱現象の利用
- 3a-M-4 半導体超格子構造に伴う歪分布のX線散乱法による解析
- 1a-M-10 In_xTaS_2の構造
- 5p-P-4 クリスタル・トランケーション・ロッド
- 29p-C-6 フーリェ解析法による (GaAs)_m (AlAs)_n 超格子の評価
- 2a-F-7 Tl_TaS_2の結晶構造(散漫散乱について)
- 3p-KH-2 Tl_xTaS_2(X=0.5)の結晶構造
- 3p-KH-1 Tl_xTaS_2の層間距離とステージング
- 1a-A3-10 表面接触入射X線回折法半導体表面層の評価(31p A3 X線・粒子線,X線・粒子線)
- 30a-CF-11 半導体超格子構造に伴う歪分布のX線散乱法による解析(II)(30a CF X線・粒子線)