久松 正 | Nasda
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概要
関連著者
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堀 史説
阪府大先端研
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大嶋 隆一郎
大阪ニュークリアサイエンス協会
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大嶋 隆一郎
阪府大先端研
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大嶋 隆一郎
大阪大学基礎工学部
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久松 正
Nasda
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玉野 拓也
大府大・先端研
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玉野 拓也
阪府大先端研
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千々岩 徹
阪府大工
著作論文
- 26a-T-4 Si中の陽子線照射欠陥の不純物効果
- 26a-T-5 B-dope Siの陽電子消滅寿命測定
- 30p-YK-5 宇宙用Siの電子線照射欠陥II
- 30p-YK-2 照射Si中の陽電子消滅測定に対する不純物効果
- 6a-S-6 陽子照射されたCZ-Siにおける陽電子消滅測定
- 6a-S-5 宇宙用Siの電子線照射欠陥
- 30p-E-7 B-dope Cz-SIの電子線照射欠陥