吉澤 豊 | Necエレクトロニクス株式会社テスト評価技術部

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概要

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• Necエレクトロニクス株式会社テスト評価技術部の論文著者

関連著者

• 吉澤 豊

  Necエレクトロニクス株式会社テスト評価技術部

著作論文

• RC回路網による故障モデルの考案とトランジスタレベル故障診断試行(LSIの評価・診断・解析及び,品質)

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