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岩井 洋 | 東京工業大学フロンティア研究所
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東京工業大学フロンティア研究所 | 論文
極薄希土類酸化膜/Si(100)界面構造(極薄ゲート絶縁膜・シリコン界面の評価技術・解析技術)
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