木下 義高 | 日本非破壊検査(株)
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概要
関連著者
著作論文
- a-Siイメージセンサーを用いたリアルタイムラジオグラフィ
- アモルファスセレン(a-Se)高精細フラットパネルの原理と応用
- 最近の放射線透過試験とラジオグラフィーシステム (特集 非破壊検査の最近の動向)
- 最近のデジタルラジオグラフィ探傷技術 (特集 現場における非破壊検査の動向)
- レ-ザ-フィルムデジタイザで,OSIに威力を発揮する放射線透過試験画像処理システム (特集 生産現場における「いろ・形状・画像認識」の技術開発動向)
- 最近のフィルムデジタイザ技術とその実用例