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椎名 宏智 | NEC機能エレクトロニクス研究所
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松寺 久雄
NEC機能デバイス研究所
鈴木 哲広
NEC機能デバイス研
鈴木 哲広
Nec機能エレクトロニクス研究所
椎名 宏智
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松寺 久雄
Nec機能デバイス研
著作論文
MRヘッドにおける記録磁界がMR素子に及ぼす影響
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