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横田 修平 | 慶大院
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関連著者
杉浦 壽彦
慶大
伊藤 仁
慶大院
丸山 真一
群馬大
丸山 真一
慶大院
横田 修平
慶大院
著作論文
423 電磁超音波探触子を用いた HIP 接合部検査の数値解析(接合不良部の大きさと受信信号の関係)
電磁超音波探触子によるHIP接合面非破壊評価の基礎的検討
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