渡辺 悟 | (株)富士通研究所基盤技術研究所

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概要

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• 渡辺 悟

  (株)富士通研究所基盤技術研究所

• 渡辺 悟

  (株)富士通研究所

• 渡辺 悟

  富士通研究所

• 山本 秀樹

  Ntt物性基礎研

• 杉田 義博

  富士通研究所株式会社

• 杉田 義博

  富士通研究所

• 杉田 義博

  富士通研究所(株)ulsi研究部門

• 渡辺 悟

  富士通研

著作論文

• 単結晶基板の表面を比較する-特集のまとめ-
• HFによる酸化物除去に伴うSi(111)表面の疎水化過程
• 26aPS-20 D:Si(111)1x1表面のSi-D変角振動の基板表面層との相互作用
• 27a-PS-59 赤外振動分光によるH吸着Si表面の局所構造解析

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