永井 利明 | (株)富士通研究所

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• 永井 利明

  (株)富士通研究所

• 関口 英紀

  (株)富士通研究所

• 永井 利明

  株式会社富士通研究所

• 関口 英紀

  富士通株式会社

• 若菜 伸一

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• 伊藤 昭夫

  (株)富士通研究所 計測制御システム研究部

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• 松木 純

  (株)アドバンテスト

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著作論文

• 磁気ヘッド記録電流測定用EOプローブ
• 磁気光学サンプリング法を用いた磁気ヘッド解析用高周波磁化観測技術
• 磁気ヘッド用高帯域磁化応答測定装置
• 磁化ベクトル成分の広帯域測定法と磁気ヘッドへの適用
• 広帯域カー顕微鏡による垂直・面内磁化成分測定法
• 磁気光学サンプリング法を用いた磁気ヘッド解析用高周波磁化観測技術
• 磁気ヘッド用高帯域カー測定装置の高空間分解能化
• VLSI内部診断用EOプローブによる絶対電圧測定と高帯域化

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