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Cho Y‐j | 朝鮮大
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朝鮮大 | 論文
30p-RC-5 陽電子消滅法による半導体格子欠陥の研究
12p-D-5 大口径シリコン検出器テスト(II)
30a-A-3 中性子照射したa-Si:Hの欠陥状態
3a-K-7 高耐圧横溝付表面障壁型シリコン検出器
31p-NB-9 一体化E-dESi位置検出器
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