国広 卓也 | 東京工業大学

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概要

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• 同名の論文著者
• 東京工業大学の論文著者

関連著者

• 永島 一秀

  ハワイ大

• 永島 一秀

  東京工業大学理学部

• 国広 卓也

  東京工業大学

• 小坂 光二

  東京テクノロジー(株)

• 圦本 尚義

  東京工業大学理学部

• 高柳 功

  Aptina Japan

• 中村 淳一

  アプティナジャパン

• 高柳 功

  アプティナジャパン

• 国広 卓也

  東京工業大学理学部

• 高柳 功

  オリンパス光学工業(株)半導体技術センター

• 高柳 功

  オリンパス光学工業

• 中村 淳一

  Aptina Japan

• 中村 淳一

  オリンパス

• 高柳 功

  マイクロンジャパン

• 中村 淳一

  マイクロンジャパン

• Fossum Eric

  Micron Technology, Pasadena, CA, USA

• 平田 岳史

  東京工業大学大学院理工学研究科地球惑星科学専攻

• Fossum Eric

  フォトビット

• Fossum Eric

  Micron Technology

• Fossum Eric

  マイクロンイメージング

• 杁本 尚義

  東京工業大学

• 小坂 光二

  (有)東京テクノロジー

• 高柳 功

  株式会社フォトビット

• 中村 淳一

  株式会社フォトビット

• 小坂 光二

  株式会社東京テクノロジー

• 小坂 光二

  有限会社東京テクノロジー

• 高柳 功

  オリンパス光学工業(株)

• 中村 淳一

  オリンパス光学工業(株)

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著作論文

• 荷電粒子検出用二次元半導体素子の質量分析形計への応用
• 荷電粒子検出用CMOSイメージセンサ
• 荷電粒子検出用CMOSイメージセンサ
• 荷電粒子検出のための2次元半導体素子の開発
• 低暗電流化荷電粒子検出イメージセンサ(固体撮像技術および一般)
• 403 二次元固体撮像素子SCAPSの出力特性と雑音特性の解析(セッション4)
• 306 固体撮像素子AMIを用いた同位体顕微鏡の開発(セッション3)

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