佐藤 貢 | (株)日立ハイテクノロジーズ

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概要

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関連著者

• 佐藤 貢

  (株)日立ハイテクノロジーズ

• 多持 隆一郎

  (株)日立サイエンスシステムズ

• 中川 美音

  日立サイエンスシステムズ

• 山田 満彦

  (株)日立サイエンスシステムズ

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  (株)日立サイエンスシステムズ 那珂カスタマーセンタ

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著作論文

• 分析SEM/FIBシステムによる微小部X線分析
• 最新の走査電子顕微鏡を用いたナノ粒子の観察 (特集 粉体工業分野におけるナノテク関連評価技術)
• 解説 FE-SEMを用いたナノテクノロジーへの応用 (特集 ナノテクノロジー)
• 走査電子顕微鏡の原理と応用 (特集 最近の顕微鏡による材料の観測・解析技術--現在および将来の電子顕微鏡を中心として)
• 多機能SEMによる様々な観察
• 走査型電子顕微鏡
• 情報理論の電子光学系への応用 -SEMの分解能, 焦点深度の新しい評価法-

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