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斉藤 文彦 | 日本アイ・ビー・エム(株)
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斉藤 文彦
日本アイ・ビー・エム(株)
著作論文
一般化ハフ変換による半導体ウエハ識別番号認識
2次元的特徴量と反射輝度分布を用いたニューラルネットワークによるハンダバンプ検査
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