山越 学 | 横浜国立大学大学院環境情報学府 研究院

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概要

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関連著者

• 山越 学

  横浜国立大学大学院環境情報学府 研究院

• 松本 勉

  横浜国立大学大学院環境情報学府

• 松本 勉

  横浜国立大学

• 田中 純一

  国立印刷局研究所

• 古家 眞

  国立印刷局研究所

• 小林 洋一

  横浜国立大学大学院環境情報学府,研究院

• 坂倉 翔

  横浜国立大学大学院環境情報学府,研究院

• 平良 允俊

  横浜国立大学大学院環境情報学府,研究院

• 山越 学

  横浜国立大学大学院環境情報学府,研究院

• 松本 勉

  横浜国立大学大学院工学研究科

• 小林 洋一

  横浜国立大学大学院環境情報学府 研究院

• 平良 允俊

  横浜国立大学大学院環境情報学府 研究院

• 山越 学

  国立印刷局研究所

• 松本 勉

  横浜国立大学大学院環境情報研究院:横浜国立大学大学院環境情報学府

• 松本 勉

  横浜国立大学大学院環境情報研究院/学府

• 坂倉 翔

  横浜国立大学大学院環境情報学府 研究院

• 山越 学

  国立印刷局

• 野中 聡

  旭川医科大学耳鼻咽喉科・頭頸部外科学講座

• 山越 学

  独立行政法人国立印刷局

• 平林 昌志

  国立印刷局研究所

• 田中 純一

  独立行政法人国立印刷局 研究所

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著作論文

• 紙の人工物メトリクスにおける分割照合の利用と耐クローン性
• 紙の人工物メトリクスにおける分割照合の利用と耐クローン性
• 人工物メトリクスによる紙の個別性の評価(セッション1)
• 透過光画像を用いた紙の認証方法の検討--人工物メトリクスの観点から (日本画像学会年次大会(通算99回) "Imaging Conference JAPAN 2007"論文集)
• IDカード表面のレーザスペックルパターンを用いた人工物メトリクス
• 紙の赤外透過光画像を用いた人工物メトリクスにおける個別性の評価
• 紙の赤外透過光画像を用いた人工物メトリクスにおける個別性の評価

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