森谷 直司 | (株)島津製作所基盤技術研究所

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概要

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• (株)島津製作所基盤技術研究所の論文著者

関連著者

• 森谷 直司

  (株)島津製作所基盤技術研究所

• 十時 慎一郎

  (株)島津製作所分析計測事業部試験機ビジネスユニット

• 島岡 治夫

  (株)島津製作所分析計測事業部試験機ビジネスユニット

• 和田 幸久

  島津製作所

• 森谷 直司

  島津製作所

• 十時 慎一郎

  島津製作所

• 島岡 治夫

  (株)島津製作所 分析計測事業部試験機ビジネスユニット

• 島岡 治夫

  (株)島津製作所

著作論文

• Induced Grating 法によるナノ粒子径測定装置の開発
• 誘電泳動と拡散現象を利用したナノ粒子解析法
• 誘電泳動グレーティング法によるナノ粒子解析 (特集 先端技術開発)
• 誘導回折格子拡散法--シングルナノ粒子の新規測定手法 (特集 ナノテクノロジー時代の微粒子計測技術)

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