上戸 靖之 | ヒューテック

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概要

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• 同名の論文著者
• ヒューテックの論文著者

関連著者

• 秦 清治

  香川大学

• 秦 清治

  香川大学工学部知能機械システム工学科

• 上戸 靖之

  ヒューテック

• 松田 庸平

  香川大学

著作論文

• 印刷欠陥検査における感覚特性に関する考察
• パターン外観検査の精密化(1)絵柄近傍欠陥検出 (第11回知能メカトロニクスワークショップ講演論文集) -- (画像検査技術)

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