深井 正一 | 松下中研
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概要
関連著者
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深井 正一
松下電器産業株式会社中央研究所
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深井 正一
松下中研
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藤原 慎司
松下電器
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藤原 慎司
松下中研
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服部 勝治
松下中研
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福田 洋二
松下中研
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辻本 好伸
松下中研
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吉田 功
松下中研
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藤原 愼司
松下電器産業 中央研究所
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藤原 愼司
松下中研
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永田 清一
松下中研
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芥澤 晧元
松下中研
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江口 治
松下中研
著作論文
- 15a-A-7 Al-doped ZnSeのElectroreflectance
- 15a-A-6 ZnTeのElectroreflectance
- ZnSeのElectroreflectance : 光物性
- 4a-L-13 ZnSe_xTe_単結晶のElectroreflectance
- 4a-L-10 Electroreflectanceにおける不純物効果
- 3p-L-11 ZnSeTe_のカソードルミネッセンス
- 15a-N-9 undope ZnSeの光伝導
- 14a-N-2 ZnSe単結晶のFranz-Keldysh効果
- 高圧溶融法ZnSe単結晶の電気的性質 : 光物性・イオン結晶
- ZnSe_xTe_Cu.Clのフォトルミネッセンス : 光物性・イオン結晶
- ZnSe-ZnTeヘテロジャンクション (II) 注入型発光の観察 : 半導体 (ヘテロ接合, 放射線損傷)
- ZnSe-ZnTeヘテロジャンクション (I) ジャンクション界面の観察 : 半導体 (ヘテロ接合, 放射線損傷)