Ahn Kyung | Telecommunication R&d Center Samsung Electronics

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概要

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• 同名の論文著者
• Telecommunication R&d Center Samsung Electronicsの論文著者

関連著者

• Ahn Kyung

  Telecommunication R&d Center Samsung Electronics

著作論文

• Outage Performance and Average Symbol Error Rate of M-QAM for Maximum Ratio Combining with Multiple Interferers

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