長島 勉 | 日本大学大学院:(現)(株)日立製作所電子デバイス事業部
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概要
関連著者
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長島 勉
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著作論文
- 光学式エンドミル外周刃逃げ面摩耗測定装置の試作
- CCDカメラによるエンドミル逃げ面摩耗の光学的測定 -(第2報) 摩耗幅および切れ刃後退量の定量的測定-
- CCDカメラによるエンドミル逃げ面摩耗の光学的測定