西山 正志 | 東京大学生産技術研究所
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概要
関連著者
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西山 正志
東京大学生産技術研究所
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西山 正志
株式会社東芝
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佐藤 いまり
国立情報学研究所
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杉本 茂樹
東京工業大学大学院理工学研究科機械制御システム専攻
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杉本 茂樹
東京工業大学
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佐藤 洋一
東京大学生産技術研究所
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岡部 孝弘
東京大学生産技術研究所
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岩村 雅一
大阪府立大学大学院工学研究科
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佐藤 真一
国立情報学研究所
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奥富 正敏
東京工業大学大学院理工学研究科機械制御システム専攻
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日浦 慎作
大阪大学大学院基礎工学研究科システム創成専攻
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右田 剛史
岡山大学大学院自然科学研究科
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安倍 満
株式会社デンソーアイティーラボラトリ
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玉木 徹
広島大学大学院工学研究科
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岡谷 貴之
東北大学大学院情報科学研究科
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向川 康博
大阪大学
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佐藤 洋一
The University Of Tokyo
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佐藤 洋一
東京大学医学部附属病院分院産婦人科
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岩村 雅一
大阪府立大学 大学院工学研究科
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阮 翔
オムロン株式会社
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玉木 徹
広島大学 大学院 工学研究科
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玉木 徹
名古屋大学工学研究科情報工学専攻:理化学研究所 バイオミメティックコントロール研究センター
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玉木 徹
新潟大学自然科学研究科:新潟大学工学部情報工学科
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玉木 徹
広島大学
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玉木 徹
新潟大学
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木下 航一
オムロン株式会社
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日浦 慎作
広島市立大学情報科学研究科
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岡谷 貴之
東北大学
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日浦 慎作
大阪大学 大学院基礎工学研究科
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奥富 正敏
東京工業大学
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Tamaki Toru
Graduate School Of Engineering Hiroshima University
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Tamaki Toru
Graduate School Of Science And Technology Niigata University
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Tamaki Toru
Faculty Of Engineering Niigata University
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坂上 文彦
名古屋工業大学
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右田 剛史
岡山大学
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佐藤 洋一
岩手医科大学・医学部・第二解剖
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佐藤 真一
国立情報学研
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石川 博
早稲田大学
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安倍 満
デンソーアイティーラボラトリ
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玉木 徹
広島大学大学院工学研究院情報部門
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玉木 徹
広島大学大学院 工学研究科
著作論文
- 複数の注目領域を用いた写真の主観的品質の識別(パターン認識応用,画像の認識・理解論文)
- 2007 IEEE Computer Society Conference on Computer Vision and Pattern Recognition(CVPR2007)報告(会議報告)
- 2007 IEEE Computer Society Conference on Computer Vision and Pattern Recognition(CVPR2007)報告(会議報告,CV/PR技術のVRへの応用)
- CVPR2011報告
- CVPR2011報告
- 審美的品質識別のための局所領域の組合せによる色彩調和の評価(光学的解析,画質改善,画像の認識・理解論文)