数田 聡 | 東北大学電気通信研究所

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概要

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関連著者

• 数田 聡

  東北大学電気通信研究所

• 小田川 裕之

  東北大学電気通信研究所

• 長 康雄

  東北大通研

• 数田 聡

  東北大通研

• 小田川 裕之

  東北大通研

• 長 康雄

  東北大学電気通信研究所

• 松浦 かおり

  東北大学電気通信研究所

• 門田 道雄

  村田製作所

• 北村 健二

  株式会社SWING

• 北村 健二

  物材機構

• 北村 健二

  物質・材料研究機構、物質研究所

• 北村 健二

  物質・材料研究機構

• 北村 健二

  物質・材料研究機構 物質研究所

• 北村 健二

  (独)物質・材料研究機構 物質研究所

• 北村 健二

  独立行政法人物資・材料研究機構

• 山之内 和彦

  東北大学電気通信研究所

• 山之内 和彦

  東北大通研

• 山之内 和彦

  東北工業大学

• Yamaguchi Kunio

  Electronics Technology Research Center Mitsubishi Materials Co. Ltd.

• 大原 鉱也

  東北大学電気通信研究所

• 大原 鉱也

  東北大通研

• 松浦 かおり

  山口大工

• 長 康雄

  東北大・電気通信研究所

• 大原 鉱也

  東北大・電気通信研究所

• 数田 聡

  東北大・電気通信研究所

• 小田川 裕之

  東北大・電気通信研究所

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著作論文

• 23aX-7 高分解能走査型非線形誘電率顕微鏡による強誘電ドメイン観測
• F-3 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた定量計測
• PE8 LiTaO_3, LiNbO_3表面に形成される極薄単分域層(SAWデバイス,ポスターセッション1)
• 非線形誘電率顕微鏡法を用いた強誘電体記録に関する基礎的検討
• 非線形誘電率顕微鏡法を用いた強誘電体記録に関する基礎的検討
• PF-2 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたZnO圧電薄膜の面方位決定
• 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた定量計測
• 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたZnO圧電薄膜の面方位決定

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