黒沢 由明 | 東芝・研究開発センター

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概要

• 同名の論文著者
• 東芝・研究開発センターの論文著者

関連著者

• 黒沢 由明

  (株)東芝研究開発センター

• 黒沢 由明

  東芝・研究開発センター

著作論文

• 確率降下法を2次形式類似度と相違度に応用したパターン認識手法
• 部分空間法とベイズ識別の関係から導かれる新しいパターン認識方式

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