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上田 正仁 | JST-CREST
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関連著者
上田 正仁
東大理:jst-erato
寺嶋 容明
群馬大教育
寺嶋 容明
東工大理
上田 正仁
JST-CREST
著作論文
22aWA-6 任意のスピンによる可逆な量子測定(量子エレクトロニクス(量子情報),領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))
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