堀内 健文 | 阪大理

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著作論文

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• GeとSiのRadiation damageとそのannesling II : 半導体
• 9p-C-5 Siliconの放射線損傷とその焼鈍効果
• 8p-B-6 Siの放射線損傷とそのAnnealing

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