住吉 研 | Nec 機能デバイス研究所

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概要

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関連著者

• 住吉 研

  Nec 機能デバイス研究所

• 高取 憲一

  Nec液晶テクノロジー株式会社研究本部研究部

• 金子 節夫

  Nec

• 金子 節夫

  Nec 機能デバイス研究所

• 平井 良彦

  NEC

• 平井 良彦

  NECカラー液晶事業部

• 高橋 暢生

  日本電気機能エレクトロニクス研究所

• 住吉 研

  NEC 機能デバイス・材料研究本部

• 高取 憲一

  NEC・機能デ研・DD研

• 住吉 研

  Nec 機能エレクトロニクス研究所

• 平井 良彦

  日本電気(株)機能エレクトロ研究所

• 高取 憲一

  NEC液晶テクノロジー株式会社研究部

• 住吉 研

  日本電気(株)機能エレクトロニクス研究所ディスプレイデバイス研究部

• 高取 憲一

  日本電気機能エレクトロニクス研究所

• 住吉 研

  日本電気機能エレクトロニクス研究所

• 平井 良彦

  日本電気機能エレクトロニクス研究所

• 住吉 研

  日本電気(株) 機能デバイス研

• 金子 節夫

  NEC液晶テクノロジー株式会社

• 金子 節夫

  日電

• 金子 節夫

  Nec機能エレクトロニクス研究所

• 高取 憲一

  Nec機能デバイス研究所

• 住吉 研

  NEC機能デバイス・材料研究本部

• 金子 節夫

  日本電気(株)機能エレクトロニクス研究所

• 高取 憲一

  日本電気(株)機能エレクトロニクス研究所ディスプレイデバイス研究部

• 平井 良彦

  NEC機能エレクトロニクス研究所

• 畑田 頼子

  NEC機能エレクトロニクス研究所

• 金子 節夫

  日本電気機能エレクトロニクス研究所

• 住吉 研

  日電

• 高取 憲一

  日電

• 高橋 暢生

  日電

• 平井 良彦

  日電

• 住吉 研

  日本電気 機能エレクトロニクス研究所

• 高取 憲一

  日本電気 機能エレクトロニクス研究所

• 高橋 暢生

  日本電気 機能エレクトロニクス研究所

• 平井 良彦

  日本電気 機能エレクトロニクス研究所

• 金子 節夫

  日本電気 機能エレクトロニクス研究所

• 高橋 暢生

  日本電気・機能エレ研

• 高取 憲一

  日本電気・機能エレ研

• 住吉 研

  日本電気・機能エレ研

• 平井 良彦

  日本電気・機能エレ研

• 金子 節夫

  日本電気・機能エレ研

• 平井 良彦

  日本電気(株)・機能エレクトロニクス研究所

• 住吉 研

  NEC・機能デ研・DD研

• 畑田 頼子

  Nec 機能エレクトロニクス研究所

• 金子 節夫

  Nec 機能デバイス研

• 澤 恭子

  日本電気(株)材料部品分析評価センター

• 亀島 泰文

  日本電気(株)材料部品分析評価センター

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著作論文

• 液晶パネルの将来展望
• 2)マルチドメインTN内のスプレイTN配向の安定性(情報ディスプレイ研究会)
• マルチドメインTN内のスプレイTN配向の安定性
• 相補型TN(C-TN)による広視野角LCD : 情報ディスプレイ : 第4回日韓台情報ディスプレイ合同研究会
• 3D108 TN液晶微細画素におけるディスクリネーションの解析 (2)
• 7)TFT-LCDの液晶シミュレーション(情報ディスプレイ研究会)
• TFT-LCDの液晶シミュレーション : 情報ディスプレイ
• 4F101 TN液晶微細画素におけるディスクリネーションの解析
• 3-3a 自発分極液晶のTFT駆動
• 6)相補型TN(CTN) : 広視野角化したTN(情報ディスプレイ研究会)
• 相補型TN(CTN) : 広視野角化したTN : 非発光型ディスプレイ関連 : 情報ディスプレイ
• 1D13 ラビング処理による配向膜ポリイミドの赤外二色性

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