松永 正久 | 東京大学生産技術研究所
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概要
関連著者
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松永 正久
千葉工業大学
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松永 正久
東京大学生産技術研究所
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萩生田 善明
千葉工業大学
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萩生田 善明
東京大学生産技術研究所
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内藤 敏
東京大学生産技術研究所
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竹中 規雄
東京大学生産技術研究所
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星本 健一
東京大学生産技術研究所
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鳴沢 勇平
東京大学生産技術研究所
著作論文
- 電着銅薄膜の疲労分布き裂に関する研究
- 電着銅単結晶薄膜の疲れき裂に関する研究
- 接触電気抵抗測定法による表面検査
- 加工変質層と表面物性
- 表面測定法の概観
- 二硫化モリブデンの二重電子回折像 : 粒子線・X線
- 四球試験における球材質の影響 : 第1報 超硬球による切削油剤の試験
- ラッピングに関する研究 (第5報) : 電子顕微鏡及電子廻折装置によるラッピング機構の研究
- ラッピングに関する研究 (第4報) : 接触電気抵抗測定法によるラッピング機構の研究
- Surface Quality Meterの原理
- ラッピングに関する研究(第3報) : 再びラッピング条件とラップ量について
- ラッピングに関する研究(第2報) : 銅のラッピングについて
- ラッピングに関する研究(第1報) : ラッピング条件とラップ量